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X熒光分析儀

更新時間:2018-11-14      點擊次數:1087

 X熒光分析儀型號:CIT-3000SMD(A)

一、應用領域該儀器是專門為黑色冶金、礦山樣品分析行業打造的一款針對性強的分析儀器,對原礦、精礦、尾礦、燒結礦、球團礦、爐渣、生鐵、石灰石等許多樣品可進行多元素快速檢測。 
二、性能特點:
♦樣品平臺自動升降,工作十分方便; 
♦樣品盤自動旋轉,測量面積更大,并能大限度的消除顆粒誤差和不均勻誤差; 
♦抽真空測量,可以更大限度的提高測量元素的檢測限,有利于金屬測量以及其他輕元素測量; 
♦模塊化設計理念,保證了儀器后續的高擴展性; 
♦采用低功率X光管端窗前直徑更大,對樣品具有更好的激發效率; 
♦更先進的 Superfast SDD 電制冷半導體探測器,分辨率和計數率更高,有利于要求更高或更復雜的樣品分析。 

三、儀器技術指標(1)測量范圍:1-40kev; 
(2)可分析元素范圍:Na-U; 
(3)分析含量范圍:1ppm-99.99%; 
(4)分辨率:優于127Ev; 
(5)低檢出限:Pb≤5ppm; 
(6)工作環境溫度:0-40攝氏度; 
(7)工作環境相對濕度:≤80% (不結露) 
(8)測量時間:10-2550s(時間可調) 
(9)輸入電源:AC 220V ±10%,50HZ; 
(10)額定功率:300W; 
(11)探測器類型:更先進的 Superfast SDD 探測器; 
(12)500萬像素的CDD攝像頭,可有效的實現觀察測試區域狀況,并拍下物料照片,可作為檢測報告的組成部分; 
(13)儀器尺寸:600(W) *570(D) *570(H)mm 
(14)樣品腔尺寸:樣品腔:300*300*100 mm 
(15)重量:約100Kg

 

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